工作原理:介质压力直接作用于陶瓷膜片,正常的压力使膜片偏移0.025mm,超压状态也只使膜片偏移0.1mm,此时测量膜片贴到了陶瓷支架上,避免了损坏。膜片位移产生的电容量,由与其直接连接的电子部件检测、放大和转换为标准信号。
工作原理:介质压力直接作用于陶瓷膜片,正常的压力使膜片偏移0.025mm,超压状态也只使膜片偏移0.1mm,此时测量膜片贴到了陶瓷支架上,避免了损坏。膜片位移产生的电容量,由与其直接连接的电子部件检测、放大和转换为标准信号。
©2025 北京瑞斯派克仪器仪表科技发展中心 版权所有 技术支持:军工网