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单排IC集成电路老化测试座图1

单排IC集成电路老化测试座

2017-08-10 21:044790询价
价格:未填
型号:IC-10J IC-21J
规格:IC-10J IC-21J
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单排IC集成电路老化测试
该系列插座适用于DIP封装的单排直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯
产品型号及规格;
IC-10J IC-21J
主要技术指标;
材料:陶瓷 磷青铜
间距;2.54mm            环境温度;-55—+255
接触电阻;≤0.01     工作电压;DC500V
单脚插入力;≤0.2Kg     弹片金层厚度;1um3um
插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次
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