项 目 | 规 格 说 明 | |
测试点数 | 标准配置320点,可扩充到2048点,最大点数2496点,开关板以64点/块为单位增设 | |
开/短路测试 | 1、测试方法:分组扫描;2、编程方法:自动学习;3、测试阀值:5Ω-500Ω可编程;4、测试电流:10mA;5、测试速度:1000点<1s | |
元
器
件
测 试 |
测试电压:+10V之间连续可调(CMOS开关板为-10V~+5V) 测试电流:0.1µA~100mA可编程(CMOS开关板为0.1µA~20mA) 测试速度:平均10ms每步 | |
电阻测试 | 0.1Ω~50MΩ 1Ω~1MΩ为1%, 小于1Ω或1MΩ以上为3% | |
电容测试 | 1pF~40mF,分辨率:0.1pF,100pF~40mF小于2%,100pF以下为5% | |
电 感 | 1uH~250H ±5% | |
跳 线 | 测试阀值:1Ω~100Ω可设定,测试电压:2.5V | |
PN结正向导通特性 | 0.2V~2.5 V | |
二 极 管 | PN结曲线测试、正反向压降测试、导通测试、恒流源测试 | |
三极 管 | 驱动电流:10mA 通断测试:0~5V 极性测试:b、c、e三针测试 β值测量:10mA最大驱动电流,可测在板β值,精度5% | |
电压 | 最高110V,对于CMOS开关板最高15V | |
稳 压 管 | ≤48V,CMOS开关板为0~10V | |
频率测试 | 0.1Hz~50MHz ±0.1% | |
数字晶体管 | 0.01V~2.5 V | |
普通晶体管 | β值 1~1000,≤10mA驱动电流 ±5% | |
光电藕合器 | 1mA~10mA驱动 0.01V~2.5v变化量 | |
多管脚器件 | 光电藕合器、场效应管、可控硅、电位器、继电器、接插件等 驱动电流0~10mA 驱动电压0~10V | |
极性电容 | 三针测量:0.1uF~40mF(金属外壳);二针测量法:0.1uF~470uF,并联电阻大于1KΩ电容;电压感应技术测量:0.1uF~40mF电容 | |
IC管脚开路测量 | PN结扫描、电压感应测试、三针电压扫描 | |
自动隔离 | 隔离方法:自动/人工设置,隔离点数:最多8点/步,隔离电流:0~100mA | |
自动放电功能 | 测试前,双针或全板放电。CMOS放电电压<15V,Relay放电电压<220V | |
主控计算机 | 国产品牌计算机 | |
测试夹具 | 含光电保护功能,探针接触情况自动检查能力,最大可测PCB:510mm×400mm最大行程:150mm 最大压力:3930N(0.5Mpa) | |
安装条件 | 1、电源:AC220+10% 50Hz 2、接地:静电接地 3、环境:温度10℃~35℃ 4、湿度:20%~85%5、安装空间:1000mm×800mm×700mm |