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内引线拉力芯片剪切应力测试仪

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简介
符合标准: MIL-STD-883、MIL-STD-750 ■ 适应范围:用于检测电子器件内部引线芯片键合、引线-衬底键合的拉力及芯片-衬底焊接剪切力。 型号Model HA-10 测试模式 Test mode 非破坏性 Nondestrucitve 可预置非破坏性
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产品详情

符合标准: MIL-STD-883、MIL-STD-750
■ 适应范围:用于检测电子器件内部引线芯片键合、引线-衬底键合的拉力及芯片-衬底焊接剪切力。
型号Model HA-10
测试模式
Test mode
非破坏性
Nondestrucitve
可预置非破坏性测试引力极限值
Nondestructive force limit values can be preset
破坏性
Destructive
可预置极限值,以保护施力机构
Limit values can be preset to protect force-exerting unit
应力测试总范围
Stress test range
0.1g∼10kg(可选用不同量程范围的传感器以满足需要)
0.1g∼10kg(sensors of different scales are available )
显示打印Display&print 液晶显示测试结果,全部数据可以打印输出
Test result is liquid dispalyed, and data can be printed.
夹具Jig 可配置DIP 型、F 型、B 型等各种封装形式的安装夹具
Jigs of DIP, F, B or other packages
外形尺寸(高×宽×深) Size 400mm×550mm×500mm

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